激光平面干涉儀系列
激光平面干涉儀系列
激光干涉儀的測量方法主要基于光的干涉原理，通過測量干涉條紋的變化來推斷被測量物體的參數。以下是激光干涉儀測量方法的詳細步驟和要點： 一、基本原理 激光干涉儀利用兩束相干光在空間交叉處發生干涉，形成干涉條紋。通過測量干涉條紋的相位差或位移量，可以計算出被......[查看詳情]
激光平面干涉儀校準規范涉及多個方面，包括校準的目的、范圍、環境條件、校準項目、校準方法以及校準結果的處理等。以下是對激光平面干涉儀校準規范的一個概述： 一、校準目的 激光平面干涉儀校準的主要目的是確保儀器的測量精度和穩定性，通過校準消除儀器因長期使用、......[查看詳情]
北京上光儀器公司
